Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.

ETUSIVU
Tietoa meistä
MH laitteet
Ratkaisu
Ulkomaiset käyttäjät
Video
Ota yhteyttä
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-42
Etusivu> Semicon Inspect
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä
  • Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä

Puolijohteiden valmistus Optinen mittaus Testaus Autonominen optinen kiekko 2D&3D-tarkastus AOI-järjestelmä Suomi

Tuotteen Kuvaus

Wafer 2D&3D Optinen Inspection AOI System

product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-55
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-56
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-57
Päämoduulien esittely

EFEM:

1. Manually load 12-inch FOUPs or 8-inch cassettes onto the loading position
2. Dual-arm design to reduce waiting time for changing wafers.
3. Compatible with 8-inch and 12-inch product alignment, and can also be customized for 6-inch wafers.

VAIHE:

1. Flying capture for image acquisition and inspection.
2. Able to detect 3D information such as Bump height and coplanarity.
3. Achieves sub-micron precision.
4. Calculation results are available immediately after scanning
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-58
määrittely
projekti
Sisältö
Tuotetyyppi
6",8",12" wafer, 2.5D/3D packaging
2D Inspection
kohdetta
Foreign objects, residual glue, particles, scratches, cracks, contamination, CP deviation, excessive needle marks, etc.
2D Metrology
Bump diameter, needle mark coordinates, RDL and TSV metrology, etc.
3D Inspection Project
Bump height, Bump coplanality
Cassette &Transmission Method
8"SMIF , 12" FOUP or combination
Objektiivi ja resoluutio
2x(2.75um)13.5x(1.57um)5x(1.1um)17.5x(0.73um)110x(0.55um)
Tarkkuus
0.55um/pixel
Valinnainen ja räätälöity
Double sided OCR,3D module, supported by E84
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-59

Ohjelmiston esittely

1.Supports multi-level permissions and permission operation log functions
2.The equipment menu bar covers a wide range of functions
3.Automatically generates mapping and production reports
4.Displays task status in real-time.
5.Combines traditional algorithms with Al for fast and accurate defect
henkilöllisyystodistus.
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-60
Pakkaus ja toimitus
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-61
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-62
Minder-Hightech on puolijohde- ja elektroniikkateollisuuden laitteiden myynti- ja huoltoedustaja. Yritys on sitoutunut tarjoamaan asiakkaille ensiluokkaisia, luotettavia ja yhden luukun ratkaisuja koneisiin.
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-63
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-64
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-65
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-66
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-67
Yrityksen profiili
Puoliautomaattinen PET-pullonpuhalluskone Pullonvalmistuskone Pullonmuovauskone PET-pullonvalmistuskone soveltuu kaikenlaisten PET-muoviastioiden ja -pullojen tuottamiseen.
FAQ
Usein kysytyt kysymykset

1. Tietoja hinnasta:
Kaikki hinnat ovat kilpailukykyisiä ja neuvoteltavissa. Hinta vaihtelee laitteesi kokoonpanon ja mukauttamisen monimutkaisuuden mukaan.

2. Tietoja näytteestä:
Voimme tarjota sinulle näytetuotantopalveluita, mutta saatat periä joitain maksuja.

3. Tietoja maksusta:
Kun suunnitelma on vahvistettu, sinun on ensin maksettava meille talletus, ja tehdas alkaa valmistaa tavaroita. jälkeen
laite on valmis ja maksat loppusumman, lähetämme sen.

4. Tietoja toimituksesta:
Kun laitevalmistus on valmis, lähetämme sinulle hyväksymisvideon, ja voit myös tulla paikalle tarkastamaan laitteet.

5. Asennus ja virheenkorjaus:
Kun laitteet saapuvat tehtaallesi, voimme lähettää insinöörejä asentamaan ja korjaamaan laitteet. Teemme sinulle erillisen tarjouksen tästä palvelumaksusta.

6. Tietoja takuusta:
Laitteillamme on 12 kuukauden takuu. Takuuajan jälkeen, jos jotkin osat ovat vaurioituneet ja ne on vaihdettava, veloitamme vain omakustannushinnan.

tiedustelu

product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-73tiedustelu product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-74Sähköposti product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-75WhatsApp product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-76WeChat
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-77
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-78ylin
×

Ota yhteyttä