Guangzhou Minder-Hightech Co., Ltd.

Főoldal
Rólunk
MH berendezések
Megoldás
Tengerentúli felhasználók
Videó
Kapcsolat
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-42
Főoldal> Semicon Inspect
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer
  • Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer

Félvezető gyártás Optikai mérés Tesztelés Autonóm optikai lapka 2D és 3D Ellenőrző AOI rendszer Magyarország

termékleírás

Ostya 2D&3D Optikai Ellenőrző AOI rendszer

product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-55
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-56
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-57
Bevezetés a fő modulokba

EFEM:

1. Manually load 12-inch FOUPs or 8-inch cassettes onto the loading position
2. Dual-arm design to reduce waiting time for changing wafers.
3. Compatible with 8-inch and 12-inch product alignment, and can also be customized for 6-inch wafers.

SZÍNPAD:

1. Flying capture for image acquisition and inspection.
2. Able to detect 3D information such as Bump height and coplanarity.
3. Achieves sub-micron precision.
4. Calculation results are available immediately after scanning
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-58
Leírás
NetPoulSafe projekt
Tartalom
A termék típusa
6",8",12" ostya, 2.5D/3D csomagolás
2D ellenőrzés
tételek
Idegen tárgyak, ragasztómaradványok, részecskék, karcolások, repedések, szennyeződések, CP eltérés, túlzott tűnyomok stb.
2D metrológia
A dudor átmérője, a tűnyom koordinátái, RDL és TSV metrológia stb.
3D vizsgálati projekt
Dudormagasság, ütések egysíkúsága
Kazettás és átviteli mód
8"SMIF, 12" FOUP vagy kombináció
Objektív és felbontás
2x(2.75um)13.5x(1.57um)5x(1.1um)17.5x(0.73um)110x(0.55um)
Pontosság
0.55 um/pixel
Választható és testreszabott
Kétoldalas OCR, 3D modul, támogatja az E84
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-59

Szoftverbevezetés

1.Támogatja a többszintű engedélyeket és az engedély műveleti napló funkcióit
2. A berendezés menüsora a funkciók széles skáláját fedi le
3. Automatikusan generál leképezési és termelési jelentéseket
4. Valós időben jeleníti meg a feladat állapotát.
5. Kombinálja a hagyományos algoritmusokat Al-val a gyors és pontos hiba érdekében
azonosítás.
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-60
Csomagolás és szállítás
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-61
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-62
A Minder-Hightech a félvezető- és elektronikai termékipari berendezések értékesítési és szolgáltatási képviselője. A vállalat elkötelezett amellett, hogy ügyfelei számára kiváló, megbízható és egyablakos megoldásokat kínáljon a gépi berendezésekhez.
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-63
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-64
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-65
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-66
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-67
Company Profile
Félautomata PET palackfúvó gép Palackkészítő gép Palacköntő gép A PET palackkészítő gép alkalmas bármilyen formájú PET műanyag tartályok és palackok gyártására.
FAQ
Gyakran ismételt kérdések

1. Az árról:
Minden árunk versenyképes és alkuképes. Az ár az eszköz konfigurációjától és testreszabási összetettségétől függően változik.

2. A mintáról:
Mintagyártási szolgáltatásokat tudunk nyújtani az Ön számára, de bizonyos díjakat is felszámíthat.

3. A fizetésről:
A terv megerősítése után először kauciót kell fizetnie nekünk, és a gyár megkezdi az áruk előkészítését. Miután a
A berendezés készen áll, és kifizeti az egyenleget, mi kiszállítjuk.

4. A kézbesítésről:
A berendezés gyártása után elküldjük Önnek az átvételi videót, illetve a helyszínre is eljöhet a berendezés átvizsgálására.

5. Telepítés és hibakeresés:
Miután a berendezés megérkezik az Ön gyárába, mérnököket küldhetünk a berendezés telepítéséhez és hibakereséséhez. Erről a szolgáltatási díjról külön árajánlatot adunk.

6. A garanciáról:
Berendezéseinkre 12 hónap garancia vonatkozik. A jótállási idő lejárta után, ha valamelyik alkatrész megsérült és cserére szorul, csak az önköltségi árat számítjuk fel.

Vizsgálat

product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-73Vizsgálat product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-74E-mail product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-75WhatsApp product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-76 WeChat
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-77
product semiconductor manufacture optical measurement testing autonomous optical wafer 2d3d inspection aoi system566-78felső
×

Vegye fel velünk a kapcsolatot!