1. Wafer yang berkenaan: wafer 12'' & wafer 8''
2. Saiz bola: ф60[um]~ ф760 [um]、ф30 [um] dalam tahap ujian Makmal
3. Bonggol Wafer:
a). Min. Bump pitch: 100 [um]
b). Min. Saiz pad benjolan: 85 [um]
c). Maks. Kiraan bonggol: 2.2KK [pin]
*Data tertakluk kepada syarat peranti
4. Sarung wafer 12”:
a). Min. Ketebalan: 200[μm],100[μm] di bawah tahap ujian makmal
b). Toleransi Lekapan Maks:6 [mm]/凹case、3 [mm]/凸cas
5. Keupayaan pemasangan bola
a). Ketepatan Cetakan Fluks
Lebih ф75[um] Bola: +25[um]
Kurang daripada ф75[μml Bola: +1/3 diameter bola
b). Ketepatan pemasangan bola
Lebih ф75[um] Bola::±25[um]
Kurang daripada ф75[μml Bola: +1/3 diameter bola
Untuk kes khas, kita boleh mencapai:+13μm
c). Nisbah NG Pemasangan Bola: Kurang daripada 30 [ppm]