Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.
EN
Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.
Få offert

Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd.

hemsida
Om oss
MH Equipment
Lösning
Användare utomlands
video
Kontakta oss
Hem> Kontaktvinkeltester
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument
  • SDC-80 Kontakthörnmätinstrument

SDC-80 Kontakthörnmätinstrument

Få en gratis offert
Produktbeskrivning

SDC-80 Mätinstrument för kontaktvinkel

Detta instrument tillverkas med modern teknik, använder en avancerad professionell CCD-digitalkamera, utrustad med
högupplösnings zoom-mikroskop och högstrålighets LED-bakgrundsbelyst system. Det kan röras upp och ner, vänster och höger, fram och tillbaka etc. med en 3D provtalsplattform. Uppnå mikroinjektion och precist rörelse upp, ner, vänster och höger. Samtidigt är arbetsytan av teleskopisk struktur utformad för att anpassa sig till olika arbetsituationer. Instrumentets ram kan justeras enligt storleken på provet, vilket utvidgar användningsområdet för instrumentet. Programvaran är utrustad med korrektionsfunktion. Efter flera tester kan resultaten sparas under samma testrapport samtidigt, vilket låter användaren bättre kontrollera materialdata. Instrumentet är vackert i design, enkelt i hantering och uppfyller användarnas behov. Det är lämpligt för användare som mäter kontaktvinklar inom olika branscher.
SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument details
SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument supplier
Ansökan
TFT-LCD-panelindustrin: Mätning av glaspanels renskapsnivå och beläggningskvalitet; kvalitetsinspektion av TFT-skrivcirkuit, färgfilter, ITO-ledarfilm och andra förbeläggningsprocesser.
Tryck- och plastindustrin: Ytrensning och mätning av adhäsionskvalitet; mätning av ink-adhäsion; kompatibilitetsmätning av limkolloid; färgfasthet.
Halvledarindustrin: Mätning av waferrensning; HMDS-processkontroll; CMP-forskning och fotoresistforskning på utvecklare.
Kemisk materialforskning: Vattenavvisande egenskaper hos hydrofila material; ytföraktivitet och renarens spänning, fuktighet; viskositetsförbättring och adhäsionsytemått.
IC-paket: baserat på ytrensning; atomär syntesoxidationsidentifiering; BGA-loddningsyta; epoxidadhäsion
mätning.
Specificitet
Utrustningsspecifikation
Utrustningsenhet
Omräkningsdimension
420mm (lång) * 150mm (B) * 400mm (höjd)
värdvikt
3,2 kg
källa
Spänning
100～240Vac
Ström
20W
Frekvens
50/60HZ
Utrymme
Plattformsstorlek
130mm×150mm
Maximal provsmälte
180mm×∞×30mm
Justering av provbord
3D handjustering (uppgraderbar till automatisk)
Fram och bakåt handjustering, sträck 60mm, precision 0,1mm
Vänster och höger handjustering, sträck 35mm, precision 0,1mm
Upp och ner handjustering, sträck 80mm, precision 0,1mm
bildupptagningsystem
Maximal bild
3000（H）× 2000（V）
Maximal bildfrekvens
70fps
Sensor
SONY 1/1.8"
ljusspektrum
Svartvit / färg
Inkomst av investering
användardefinierad
Visa linjebredd
användardefinierad
exponeringstid
användardefinierad
källa
5-VDC USB-gränssnittet
Överföring
USB3 Vision
Mikroskopshuvud
fokalavstånd
100mm
förstoring
Åtta gånger
Upplösningsskalning
6～12um
ljuskälla
TYP
Enkelspektral industriell LED (kallt ljus)
Våg längd
460nm
ljussfär
40mm×20mm
Livslängd
50000Timme
Injectionssystem
Droppmetod
Stratal precision mikrosprit
Styrningsmetod
Manuell styrning
Droppnoggrannhet
0.1μl
Injektor
Högprecisionslufttätt syringe
Kapacitet
1000μl
nålfot
0.51mm helt rostfri superhydrofob nål (standard)
mjukvara
Kontaktvinkelomfattning
0～180°
Upplösningsskala
0.01°
Metod för kontaktvinkelmätning
Fullständigt automatisk, semi-automatisk och manuell arbetsläge
analysläge
Stoppdroppe-metoden (2/3 tillstånd), bubblfängningsmetoden, sittandroppe-metoden
analytisk procedur
Statisk analys, dynamisk analys av vätskans tillväxt och förminskning, dynamisk analys av blötning, realtid analys, bilateral
analys, framåt och bakåt vinkelanalys
Testmetod
Cirkelmetod, ellips/skew ellipsmetod, differentiell cirkel/differentiell ellipsmetod, Young-Laplace, bredd och
höjdmetod, tangentmetod, intervallmetod
ytfritt energi
Testmetod
Zisman, OWRK, WU, WU 2, Fowkes, Antonow, Berthelot, EOS, klistrarbete, immersionsarbete och spridningskoefficient
datahantering
Utgångsmetod
Automatisk generering, kan exportera/skriva ut EXCEL, Word, spektrogram och andra rapportformat
Förpackning & Leverans
SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument details
SDC-80 Contact Angle Measuring Instrument manufacture
Företagsprofil
Vanliga frågor
1. Om pris:
Alla våra priser är konkurrenskraftiga och förhandlingsbara. Priset varierar beroende på konfigurationen och komplexiteten av anpassningen av din enhet.

2. Om provproduktion:
Vi kan erbjuda provproduktions tjänster, men du kanske måste betala vissa avgifter.

3. Om betalning:
När planen är bekräftad måste du betala en förskottsbetala till oss först, och fabriken kommer att börja förbereda varorna. När
utrustningen är redo och du har betalat restbeloppet, skickar vi ut den.

4. Om leverans
När tillverkningen av utrustningen är klar skickar vi dig en acceptansvideo, och du kan också komma till platsen för att inspektera utrustningen.

5. Installation och justering
När utrustningen ankommer till din fabrik kan vi skicka ut ingenjörer för att installera och felsöka utrustningen. Vi kommer att ge dig ett separat offert för den här tjänstekostnaden.

6. Om garantin
Vår utrustning har en garanti på 12 månader. Efter garanti perioden, om några delar skadas och behöver bytas ut, kommer vi endast att debitera kostnadspriset.

Mer produkter

Fråga

Copyright © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. All Rights Reserved

Integritspolicy

Fråga Email WhatsApp Top
×

Kom i kontakt