مواصفات الجهاز |
||
جهاز رئيسي |
||
مخطط الأبعاد |
550 ملم (طول) 196 ملم (عرض) 485 ملم (ارتفاع) |
|
وزن الجهاز الأساسي |
11 كجم |
|
ضبط الجهاز |
اختبار مستوى الجهاز / ضبط كامل |
|
مصدر |
||
الجهد |
100240فاكس |
|
طاقة |
20 واط |
|
التردد |
50/60 هرتز |
|
مساحة |
||
حجم المنصة |
130mm×150mm |
|
العينة القصوى |
250×∞×60mm |
|
ضبط منضدة العينة |
الضبط اليدوي ثلاثي الأبعاد (قابل للترقية إلى التحكم التلقائي) |
|
ضبط يدوي أمامي وخلفي، مسافة سفر 60mm، دقة 0.1mm ضبط يدوي يمينًا ويسارًا، مسافة سفر 35mm، دقة 0.1mm ضبط يدوي لأعلى وأسفل، مسافة سفر 80mm، دقة 0.1mm |
||
نظام التقاط الصور |
||
الصورة القصوى |
4000(H)× 3000(V) |
|
الحد الأقصى لمعدل الإطارات |
120 صورة في الثانية (قابلة للترقية إلى معدلات أعلى) |
|
مستشعر |
سوني 1/1.8" |
|
مدى الضوء |
أسود وأبيض / ألوان |
|
عائد الاستثمار |
معرّف من قبل المستخدم |
|
عرض عرض الخط |
معرّف من قبل المستخدم |
|
وقت التعرض |
معرّف من قبل المستخدم |
|
مصدر |
واجهة USB بجهد 5 فولت |
|
نقل |
USB3 Vision |
|
رأس المجهر |
||
المسافة البؤرية |
100مم |
|
قوة التكبير |
ثماني مرات |
|
تدرج الدقة |
6~12um |
|
المصدر الضوئي |
||
نوع |
LED صناعي بطول موجة واحدة (ضوء بارد) |
|
الطول الموجي |
470nm |
|
حقل الضوء |
Φ50mm |
|
نقطة ضوئية |
96 حبة مكثفة |
|
عمر الحياة |
50000 ساعة |
|
نظام الحقن |
||
طريقة القطر |
ميكرو محقنة بدقة طبقية |
|
طريقة التحكم |
التحكم اليدوي |
|
تقليل الدقة |
0.1μل |
|
محرك حقن |
ميكانيكية حقن ذات دقة عالية وثبات جوي |
|
سعة |
1000μl |
|
رأس إبرة دقيقة |
إبرة فائقة الكراهية للماء بقطر 0.51 ملم من الفولاذ المقاوم للصدأ (معياري) |
|
البرمجيات |
||
نطاق زاوية الاتصال |
0~180° |
|
نسبة الدقة |
0.01 درجة |
|
طريقة قياس زاوية الاتصال |
آلية بالكامل، شبه آلية ويدوية |
|
نمط تحليل |
طريقة قطرة التعليق، طريقة إيقاف القطرة (2/3 حالة)، طريقة ا nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble nabble الطريقة |
|
إجراء تحليلي |
تحليل ساكن، تحليل ديناميكي لتمدد السوائل التلقائي، تحليل ديناميكي للرطوبة، التحليل في الوقت الفعلي، التحليل ثنائي الاتجاه، تحليل الزاوية الأمامية والخلفية |
|
طريقة الاختبار |
طريقة الدائرة، طريقة القطع الناقص / القطع الناقص المائل، طريقة الدائرة التفاضلية / القطع الناقص التفاضلي، Young-lapalace، العرض و طريقة الارتفاع، طريقة الظل، طريقة الفاصل الزمني |
|
الطاقة الحرة للسطح |
||
طريقة الاختبار |
Zisman, OWRK, WU, WU 2, Fowkes, Antonow, Berthelot, EOS, عمل التصاق، عمل الغمر، ومعامل الانتشار |
|
معالجة البيانات |
||
طريقة الإخراج |
الإنشاء التلقائي، قادر على تصدير \ طباعة تقارير بتنسيقات EXCEL، Word، الطيف وغيرها |
Copyright © Guangzhou Minder-Hightech Co.,Ltd. All Rights Reserved