RTD Wafer è un sensore di temperatura che utilizza tecniche di elaborazione speciali per incorporare sensori di temperatura (RTDs) in posizioni specifiche sulla superficie di un wafer, consentendo la misurazione in tempo reale della temperatura della superficie del wafer.
Le misure di temperatura reali in posizioni specifiche sul wafer e la distribuzione complessiva della temperatura del wafer possono essere ottenute tramite RTD Wafer; può inoltre essere utilizzato per il monitoraggio continuo dei cambiamenti di temperatura transitori sui wafer durante il processo di trattamento termico.