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Ellisometro Spettroscopico

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Descrizione del Prodotto

Ellisometro Spettroscopico

L'ellisometro spettrale può completare test automatici veloci e multi-punto, e può verificare l'uniformità del campione con un solo clic. Il polarizzatore, l'analizzatore e il compensatore del prodotto sono dotati di dispositivi di blocco posizionale ad alta precisione con funzione di compensazione della banda, il che aumenta l'accuratezza e la stabilità del sistema. Utilizzando una struttura a doppio fibra ottica per migliorare l'efficienza di raccolta della luce, è possibile raccogliere spettri sufficienti da superfici incise o lucidate con acido, o da fronti piramidali convenzionali per il testing e l'analisi. Dispone inoltre di funzioni di base come auto-fuoco, selezione dell'intensità della luce e compensazione di fase.
Progettato per l'analisi ad alta precisione ed efficienza delle proprietà ottiche dei materiali. Può eseguire in modo automatico e rapido
misurare con precisione l'indice di rifrazione, il coefficiente di estinzione e lo spessore del film dei materiali. È adatto per le esigenze di caratterizzazione di film sottili e materiali nei campi della ricerca scientifica, semiconduttori, fotovoltaici, rivestimenti ottici, pannelli display e altri.

Oggetto della misura:

Rivestimento ottico: Si02, Si3N4, SnO2, Nb205, Ti02, Ta205, A2O3, MgF2, Pi.
Display: OLED(AIG3, PCBM, NPB, NPD...), elettrodi(ITO, PEDOT, MgO, Ag, Al, Mg...) ...
Fotovoltaico: Si, Poly-Si, SiNx, CdS, CIGS, CdTe, PFN-Br, ABX3, PEDOT:PSS, PTB7-Th:PC71BM.
Semiconduttore: Fotorist, ZnO, SiON, SiC, SiGe, GaN, AIN, InP, GaAs, AlxGa(1-x)N
Altri: OCD, materiali 2-D, giunzione e dispositivo di Van der Waals...

Funzione del prodotto:

Misura dell'indice di rifrazione: Misurare con precisione l'indice di rifrazione dei materiali a diverse lunghezze d'onda, fornendo dati chiave per la progettazione ottica e la ricerca dei materiali.
Misura del coefficiente di estinzione: Analizzare le caratteristiche di assorbimento della luce dei materiali per aiutare a ottimizzare le prestazioni dei dispositivi ottoelettronici.
Misura della spessore del film: Supporta la rilevazione della spessore di film a livello nanometrico fino a micronico con alta risoluzione e buona ripetibilità.
Test automatico rapido: Con funzione di scansione automatica multi-punto, la velocità di misura raggiunge 1 secondo/punto, il che migliora notevolmente l'efficienza dei test su grandi quantitativi.

Principio di misura:

Il principio di misura dell'ellissometria è basato sul cambiamento dello stato di polarizzazione della luce riflessa prima e dopo la superficie del mezzo, per ottenere informazioni sulle proprietà ottiche e sulla struttura.
Il campo elettrico del fascio incidente viene decomposto in due direzioni verticali, con la luce p parallela alla vibrazione della luce
onda, luce s perpendicolare alla vibrazione dell'onda elettromagnetica. Le ampiezze e le fasi della luce p e s cambieranno quando il fascio viene riflesso dalla superficie del mezzo.
La correlazione tra le caratteristiche fisiche del mezzo e il cambiamento dello stato di polarizzazione.

Ambiente di lavoro dello strumento:

Alimentazione: 220VAC+10%
Temperatura ambiente: temperatura ambientale (10-30)℃
Umidità relativa: (20-80)% RH

Spettrometro:

Unità di rilevamento: rilevatore CCD retroilluminato veloce da 2048 pixel
Parametri dettagliati:
1. intervallo spettrale superiore a 350nm-1000nm
2. luce stray<0.02%@400nm
3. rapporto segnale rumore 4800
4. intervallo dinamico 50000:1
5. percorso ottico olografico
6. risoluzione digitale 16-bit
7. velocità di lettura >400kHz
8. velocità di trasmissione dati 600MB/s
9. tempo minimo di integrazione/passaggio di regolazione 6 us/1us
10. ritardo del trigger esterno 95ns+/-20ns
11. interfaccia computer USB4.1C/2.0
12. sistema operativo Win 7/in 8/Win 10
risposta fotometrica media nella regione UV CCD retroilluminato, risposta fotometrica media ≥75% Sistema di raffreddamento micro TE, temperatura dopo il raffreddamento è 30°C
inferiore alla temperatura ambiente.
Metodo di integrazione controllo automatico del tempo di integrazione tramite software, si può ottenere il miglior risultato

Sistema sorgente luminosa:

Sorgente luminosa a lampada aloloide con bulbo in quarzo, intervallo di lunghezza d'onda 350nm-2000nm, durata senza decadimento superiore a 50000 ore.
Alimentazione indipendente per la lampada aloloide, tensione 4.9vd

Supporto con funzione di auto-focusing:

Muovi il campione alla posizione di misurazione ottimale con la funzione di auto-focusing Corsa: 100mm
Precisione: 0.0005mm Limitazione della posizione con limiti positivi e negativi e sensore di posizione zero; posizione iniziale, posizione finale e lunghezza del passo della funzione di auto-focusing possono essere impostati nel software utilizzando il metodo di regressione gaussiana; imposta un tempo di integrazione specificato e raccogli l'intensità del metodo Focus
Struttura del prodotto
Specifiche
Sistema ottico:
Angolo di incidenza
65°
Deviazione del fascio
< 0.3°
Parametri di Misura
Psi&Del, TanPsi&CosDel, Alpha&Beta
Polarizzatori
Glan-Thompson
Materiale
a-BBO
Compensatore
ritardo di fase di un quarto d'onda, iper acromatico
Selezione dell'intensità
Elemento di selezione della densità ottica lineare. Garantisce un buon rapporto segnale rumore durante il processo di misura, migliorando la precisione dei dati,
evita che l'intensità della luce sia eccessiva da saturare o troppo debole da ridurre il rapporto segnale-rumore e la precisione
Progettazione ottica
fibra ottica doppia trasmette la luce dalla lampada al spettrometro attraverso elementi di polarizzazione; percorso ottico stabile, comodo per cambiare le lampade
Fibra
passivazione anti-UV; NA=0.22; apertura chiara 600um
Micro punto luminoso
diametro ≤200um, per distinguere tra la luce utile riflessa dalla superficie anteriore e la luce inutile riflessa dalla
superficie inferiore, facile da smontare
Fessura
1 50um, per distinguere tra la luce utile riflessa dalla superficie anteriore e la luce inutile riflessa dalla parte inferiore
superficie
Tabella di selezione dei parametri di base:
Intervallo spettrale
350-1000nm
C
Visibile
210-1000nm
UC
UV-Visibile
210-1700nm
Non
UV-Vis-NIR
Compensatore ottico
Rc
Singolo compensatore
RC2
C2
Compensatore doppio
Intervallo spettrale
X-Y
M
Corsa lunga fino a 230mm
X-R
R
Diametro grande fino a 300mm
Imballaggio & consegna
Profilo dell'azienda
Minder-Hightech è il rappresentante di vendita e servizio nel settore degli equipaggiamenti per l'industria dei semiconduttori e dei prodotti elettronici. Dal 2014, l'azienda si impegna a fornire ai clienti Soluzioni Superiori, Affidabili e Tutto-in-Uno per l'attrezzatura.
FAQ
1. Informazioni sul prezzo:
Tutti i nostri prezzi sono competitivi e negoziabili. Il prezzo varia a seconda della configurazione e della complessità di personalizzazione del tuo dispositivo.

2. Informazioni sul campione:
Possiamo fornire servizi di produzione di campioni per te, ma potresti dover pagare alcune spese.

3. Informazioni sul pagamento:
Dopo la conferma del piano, devi prima pagarci un acconto e la fabbrica inizierà a preparare i beni. Una volta pronte l'attrezzatura e dopo aver pagato il saldo, la spediremo.

4. Informazioni sulla consegna:
Al termine della produzione dell'attrezzatura, ti invieremo il video di accettazione e potrai anche venire sul sito per ispezionare l'attrezzatura.

5. Installazione e regolazione:
Una volta arrivata l'attrezzatura nella tua fabbrica, possiamo inviare ingegneri per installarla e regolarla. Ti forniremo una preventivo separato per questa spesa.

6. Informazioni sulla garanzia:
Le nostre attrezzature hanno un periodo di garanzia di 12 mesi. Dopo il periodo di garanzia, se si danneggiano parti e hanno bisogno di essere sostituite, addebiteremo solo il costo delle parti.

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