1. Naaangkop na wafer: 12'' wafer at 8'' wafer
2. Laki ng bola: ф60[um]~ ф760 [um]、ф30 [um] sa antas ng pagsubok sa Lab
3. Wafer Bump:
a). Min. Bump pitch: 100 [um]
b). Min. Laki ng bump pad: 85 [um]
c). Max. Bilang ng bump: 2.2KK [pins]
*Ang data ay napapailalim sa mga kundisyon ng device
4. 12” wafer case:
a). Min. Kapal: 200[μm],100[μm] sa ilalim ng lab test level
b). Max Warpage Tolerance:6 [mm]/凹case,3 [mm]/凸case
5. Ball mounting Ability
a). Katumpakan ng Flux Printing
Higit sa ф75[um] Ball: +25[um]
Mas mababa sa ф75[μml Ball: +1/3 ng diameter ng bola
b). Katumpakan ng pag-mount ng bola
Higit sa ф75[um] Ball::±25[um]
Mas mababa sa ф75[μml Ball: +1/3 ng diameter ng bola
Para sa espesyal na kaso, makakamit natin ang:+13μm
c). Ball Mounting NG Ratio: Mas mababa sa 30 [ppm]