Das Ultraschall-Rastermikroskop MDHWS114 ist ein zerstörungsfreies Prüfgerät, das Ultraschall als Medium verwendet. Es verwendet hauptsächlich Hochfrequenz-Ultraschall, um alle Arten von Halbleiterbauelementen und -materialien zu erkennen, und kann Defekte wie Löcher, Risse, Einschlüsse und Delamination innerhalb der Probe erkennen und grafisch darstellen. Beim Scanvorgang wird die Probe nicht beschädigt, ihre Leistung wird nicht beeinträchtigt und es kann die Anforderungen der Branchen Neue Energie, Halbleiter, Leistungselektronik, Wärmemanagementmaterialien, Diamantverbundwerkstoffe, Kohlefaserverbundwerkstoffe und anderer Branchen effektiv erfüllen.