Die MDHWS661 Serie Ultraschall-Scanning-Mikroskop ist eine Art von zerstörungsfreiem Prüfgerät, das Ultraschall als Ausbreitungsmedium verwendet. Sie verwendet hauptsächlich Hochfrequenzultraschall zur Untersuchung verschiedener Halbleiterbauelemente und -materialien und kann Mängel wie Porositäten, Risse, Einschlüsse und Delaminierung im Inneren der Proben erkennen und diese grafisch darstellen. Während des Scans wird die Probe nicht beschädigt, es tritt keine Beeinträchtigung der Probe-Eigenschaften auf, und es kann effektiv genutzt werden.
Die Anforderungen der Branchen Neuenergie, Halbleiter, Leistungselektronik, Wärmeleitsysteme, Diamant-Kunststoff-Werkstoffe, Kohlenfaserverbundwerkstoffe usw. erfüllen.